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高温度測定システムHMX

温度400‐1000℃

※シリコン・石英当の絶縁基盤に、ATO/ITO等の酸化物の膜を張った【チップ】を加熱し、取り出し、その【光の透過量】あるいは【抵抗値】を測定して温度等加熱状態を測定するものです。

高温度測定システムHMX